DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动,可以实现异常准确的器件检定,支持 光通信 标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155Mb/s - 400G PAM4 的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。
特点 |
优势 |
电气模块信号测量精度:
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<100 fs 本底抖动允许对高位速率(40 和 100 (4´25) Gb/s)设备进行检定,典型 <5% 的信号单位间隔由测试仪器所使用。70 GHz 带宽允许对高位速率信号进行完整检定(数据速率 28 Gb/秒的 5 阶谐波和数据速率 >45 Gb/秒的 3 阶谐波)。 |
在所有带宽上实现业内较低的系统噪声:
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较大程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量,避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。 |
单台主机内多 6 个通道同时采集 <100 fs 抖动。 | 多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试,提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。 |
光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试。 | 为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统,从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s(SONET/SDH 和 40GBase 以太网)和 100 Gb/s 以太网(100GBase-SR4、-LR4 和 ER4),波长 850、1310 和 1550nm。 |
优异的采集吞吐量,采样率 300 kS/s。 | 通过优异的系统吞吐量,可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。 |
能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。 | 远程采样头较大程度降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化,简化测试系统的反嵌。 |
独立的已校准通道相差校正。 | 双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正,消除时滞,增强多通道测量的信号保真度。 |
模块 | 描述 |
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80E11 | 8000 系列,双通道,70 GHz,超低抖动,电采样模块(包含 D1) |
80E10B | 8000 系列,双通道,50 GHz,远程电采样模块,带 TDR(包含 D1) |
80E08B | 8000 系列,双通道,30 GHz,远程电采样模块,带 TDR(包含 D1) |
80E09B | 8000 系列,双通道,60 GHz,远程电采样模块(包含 D1) |
80E11X1 | 8000 系列,单通道,70 GHz,超低抖动,电采样模块(包含 D1) |
80A02 | EOS/ESD 保护模块,用于泰克电采样模块的静电隔离;本产品包含一致性声明 |
80C17 | 8000 系列光模块:单通道,30GHz 光带宽,单/多模,800nm ~ 1600nm |
80C14 | 14+ GHz,宽波长,放大光采样模块 |
80E03 | 采样模块;双,20GHZ 电采样模块 - 可追溯校准标准证明 |
80E04 | 采样模块;双,20GHZ 带 TDR 电采样模块 - 可追溯校准标准证明 |
80E07B | 8000 系列,双通道,30 GHz,远程电采样模块(包含 D1) |
80N02 | 8000 Series Electrical Sampling Module Extender, 2M Cable |
82A04B | 8000 系列,相位参考模块(包括 D1) |
80C08D | 单通道光采样模块;10G 光参考接收机滤波器;12 GHz 光宽带;单模/多模 |
80C12B | 12 GHz,宽波长,放大光采样模块 |
80C21 |
8000 系列光模块:双通道,53 GHz 光带宽,单模,1200nm - 1650nm |
80C10C | 单通道,65/80 GHz 光采样模块(必须指定 F1、F2 或 F3 中的一个选件) |
80C20 |
8000 系列光模块:单通道, 53 GHz 光带宽,单模,1200nm - 1650nm |
80C18 | 8000 系列光模块:双通道,30GHz 光带宽,单/多模,800nm ~ 1600nm |
80C15 | 8000 系列光模块:单通道,32GHz 光带宽,单/多模,800nm ~ 1600nm |
80C07B | 光采样模块;2.488 GB/S O8/STM16,2.500 GB/S 2GBE,2.500 GB/S 无限带宽;2.5 GHZ 光带宽 |
80C11B | 单通道光采样模块;10G 光参考接收机滤波器;28 GHz 光宽带;单模 |
产品技术资料 | 软件包 / 软件选件 | 描述 |
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查看产品技术资料 | 100G-SR4 |
100GBASE-SR4 及发射机和色散眼图闭合 (TDEC) 自动化一致性和调试测试解决方案 |
查看产品技术资料 | 80SICMX | ICONNECT 和 MEASUREXTRACTOR 信号完整性及故障分析软件 |
查看产品技术资料 | 80SICON | ICONNECT 信号完整性及故障分析软件 |
查看产品技术资料 | 80SJNB PAM4 |
用于 PAM4 调制分析的工具 |
80SJNB, 80SJARB |
抖动、噪声和 BER 分析软件。 |
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80SJNB01 |
抖动、噪声和 BER 分析软件版 |
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查看产品技术资料 | 80SJNB02 |
带有 SDLA 可视化仪的抖动、噪声和 BER 分析软件 |
查看产品技术资料 | 80SSPAR | ICONNECT S 参数和 Z-LINE 软件 |
查看产品技术资料 | CEI-VSR |
CEI-28G-VSR 测试软件自动化一致性和调试解决方案。 |
查看产品技术资料 | Opt. 400G-M4 |
400G Optical Manufacturing analysis software, 4 channel TDECQ |
查看产品技术资料 | Opt. 80S400G-TXO |
IEEE 802.3bs(200GBASE-DR4/LR4/FR4 和 400GBASE-DR4/LR8/FR8)和 IEEE 802.3cd(50GBASE-FR/LR 和 100GBASE-DR)光发射机一致性解决方案 |
产品技术资料链接 | 探头 | 描述 |
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DVT30-1MM GigaProbe | 30 GHz TDR 探头 由 GigaProbes 提供 。 | |
查看产品技术资料 | P8018 | 手持式 TDR 探头,无源;20 GHZ,单端,50 欧姆,SMA 连接器带 20 GHZ SMA 电缆;设计为配合使用 80A02 EOS/ESD 保护模块;本产品包含一致性声明 |
查看产品技术资料 | P80318 | 探头包,18GHz 100 欧姆差分手持探头 |
产品技术资料链接 | 探头 | 描述 |
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查看产品技术资料 | P6150 | Passive Probe: 10X/1X, 9GHz, 12.5V low capacitance |
产品技术资料链接 | 探头 | 描述 |
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查看产品技术资料 | P7330 | 探头;差分;3.5 GHZ 带宽,+/-1.75 V 差分,大动态范围,+5V -4V 共模范围,输入处 2.3 MV RMS 噪声,5X 衰减 - 可追溯校准标准证明 |
查看产品技术资料 | P7350 | DIFFERENTIAL PROBE, 5 GHZ |
查看产品技术资料 | P7380SMA | 8 GHZ DIFFERENTIAL SIGNAL ACQUISITION SYSTEM WITH SMA INPUTS,CERTIFICATE OF TRACEABLE CALIBRATION STANDARD |